半導(dǎo)體測(cè)試半導(dǎo)體在研發(fā)和制造的各個(gè)環(huán)節(jié)都要進(jìn)行反復(fù)測(cè)試,以確保產(chǎn)品質(zhì)量符合設(shè)計(jì)要求。問(wèn)題產(chǎn)品的影響不可估量,從IC級(jí)別的數(shù)十美元,到模塊級(jí)別的數(shù)百美元,...
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