傳統差分探頭的共模抑制比隨頻率上升快速下降，無法準確測量高共模干下的小電壓信號如半橋電路的上管驅動電壓。致遠儀器推出全新的ZOP5035光隔離探頭，可保證全工作帶寬內的高共模抑制比，更好的解決這一測量難題。

相比與傳統差分探頭，光隔離探頭全帶寬下都擁有更高的共模抑制比，可以實現高共模下的電壓信號測試，同時搭配不同的衰減器，可以實現量程3V-2500V的寬壓測試，ZOP5035詳細參數如下圖所示。

目前以SiC、GaN為代表的功率器件被廣泛應用，功率半導體器件具有幾十種參數來表征其特性，包括了器件的最值、靜態(tài)參數、動態(tài)特性等。功率半導體測試中以動態(tài)特性測試最為復雜，針對器件動態(tài)特性測試，典型的就是雙脈沖測試。如下圖是一個典型的雙脈沖測試模型，這也是ZOP5035典型的應用場景。

功率器件動態(tài)特性測量中（雙脈沖測試），最難的部分就是對半橋電路的上管驅動電壓VGS的測量，因安全問題無法使用無源探頭進行測量的，且存在較強的共模電源，此時通常會選用差分探頭進行測試，我們選用差分探頭和光隔離探頭進行測試對比，情況如下所示。

雙脈沖測試過程

開通過程

關閉過程

通過對比我們可以發(fā)現在使用了光隔離探頭后測到的波形明顯更加平穩(wěn)，震蕩明顯減輕?？梢娛褂霉飧綦x探頭可以得到更好的波形和更準確的結果。

示波器是電子工程師的眼睛，探頭是示波器捕獲信號的重要紐帶，選擇合適的探頭能夠讓我們對信號的分析更加準確和有效，致遠儀器會不斷推陳出新，為用戶帶來更多更好的產品。