①請告知樣品來源、種類、屬性（如礦石、合金、硅酸鹽、特種固熔體、高聚物等）。
盡可能列出主要成份、雜質(zhì)成份及其（估計）含量；待檢元素中最低（估計）含量是多少？對于溶液，請寫明介質(zhì)成份（溶劑、酸堿的種類及其（估計）含量）、 含氟（ F-）與否 ？因為氟（F-）將嚴重腐蝕霧化器！
②固體樣品要制成不含任何有機物的溶液，其最終酸度控制為 1 mol ，樣品量：5-50 ml。
如含懸浮物或沉淀，務必過濾；另請同時送上試劑空白溶液用作扣除空白，此項不收費！
③樣品要求處理成溶液以后才送至測試中心。
（2）由于條件限制，本室無法分析下列元素和某些物質(zhì)：
① 樣品加熱、加酸溶解時易揮發(fā)損失者（如B,Hg,S-2 ,Se 及用 氫氟酸 (HF) 溶樣時的Si ）；
② 陶瓷、玻璃類及其它用無機酸不能溶解、 只可用堿融熔者；
③ 有機硅、硅橡膠、塑料制品、纖維類或任何在 500 oC 以內(nèi)灰化、及其后的酸消解中：
A.易揮發(fā)損失者；
B.無法灰化或無法溶解者（如B,Bi,Ge,Hg,Os,Ru,Sb,Se,Sn,Tl 及用氫氟酸（HF）溶樣時的Si；特種固熔體、高聚物等。）
13.原子熒光光譜儀：
（1）樣品分析一般要求
原子熒光光譜儀分析的對象是以離子態(tài)存在的砷（As）、硒（Se）、鍺（Ge）、碲（Te）等及汞（Hg）原子，樣品必須是水溶液或能溶于酸。
（2）固體樣品
① 無機固體樣品 樣品經(jīng)簡單溶解后保持適當酸度。
檢測砷（As）、硒（Se）、碲（Te）、汞（Hg），介質(zhì)為鹽酸（5%，v/v）；
檢測鍺（Ge），介質(zhì)為硫酸（5%，v/v）；
檢測汞（Hg），介質(zhì)也可為硝酸（5% ，v/v），檢測（As）介質(zhì)也可為硫酸（2%，v/v）。
由于銅、銀、金、鉑等金屬對待測元素的干擾較大，因此該幾類合金樣品中的砷、硒、碲、汞不宜采用本儀器測定。
② 有機或生物固體樣品
樣品經(jīng)硝化處理為溶液并保持適當酸度，其介質(zhì)酸度與無機樣品同。
（3）樣品中待測元素限量要求
由儀器靈敏度及分析方法決定，樣品含待測元素上下限為0.05μg/g~500μg/g，不在此含量范圍內(nèi)的樣品使用本儀器檢測將無法保證檢測結(jié)果的準確可靠。
（4）樣品份量
每檢測1個元素，要求固體樣品量不少于2g，液體樣品量不少于20mL，水樣不少于100mL。
（5）其它
送樣前請查閱相關文獻資料，盡量提供相關信息。
14.差示掃描量熱儀：
固體樣品，在所檢測的溫度范圍內(nèi)不會分解或升華，也無揮發(fā)物產(chǎn)生。樣品量：單次檢測無機或有機材料不少于20mg，藥物不少于5mg 。送樣時請注明檢測條件（包括檢測溫度范圍，升、降溫速率，恒溫時間等）。
15.熱重分析儀：
樣品量：不少于30mg 。送樣時請注明檢測溫度范圍，實驗氣氛（空氣、N2或Ar），升溫速率，氣體流量（如有特殊要求）。
16. X-射線粉末衍射儀：
送檢樣品可為粉末狀、塊狀、薄膜及其它形狀。粉末樣品需要量約為0.2g（視其密度和衍射能力而定）；塊狀樣品要求具有一個面積小于45px x45px的近似平面；薄膜樣品要求有一定的厚度，面積小于45px x 45px ；其它樣品可咨詢嘉峪檢測網(wǎng)實驗室。
17. X-射單晶末衍射儀：
送檢樣品必須為單晶。選擇晶體時要注意所選晶體表面光潔、顏色和透明度一致。不附著小晶體，沒有缺損重疊、解理破壞、裂縫等缺陷。晶體長、寬、高的尺寸均為0.1~0.4 mm，即晶體對角線長度不超過 0.5 mm （大晶體可用切割方法取樣，小晶體則要考慮其衍射能力）。
18.透射電子顯微鏡：
由于受電鏡高壓限制，透射電子束一般只能穿透厚度為幾十納米以下的薄層樣品。除微細粒狀樣品可以通過介質(zhì)分散法并直接滴樣外，其它樣品的制備方法主要有物理減薄（離子和雙噴減薄等）和超薄切片法。一般情況下，需要采用物理減薄法的樣品制備過程，須由用戶自己完成（不具備此制樣條件的院系，可租用本室的相關設備）。超薄切片樣品的制備，需經(jīng)樣品前處理、包埋、切片等復雜工序，周期較長（約一周左右）。
由于該儀器是高分辨型電鏡，為確保儀器性能和發(fā)揮其高分辨象觀察特點，目前主要接受材料領域的樣品。
19.場發(fā)射掃描電子顯微鏡：
送檢樣品必須為干燥固體、塊狀、片狀、纖維狀及粉末狀均可。應有一定的化學、物理穩(wěn)定性，在真空中及電子束轟擊下不會揮發(fā)或變形；無磁性、放射性和腐蝕性。含水分較多的生物軟組織的樣品制備，要求用戶自己進行臨界點干燥之前的固定、清洗、脫水及用醋酸（異）戊酯置換等處理，最后由本室進行臨界點干燥處理。觀察圖像樣品應預先噴金膜。一般情況下，樣品盡量小塊些(≤1010x5mm 較方便 ) 。粉末樣品每個需1克左右。納米樣品一般需超聲波分散，并噴涂超細微金膜。
20.掃描電子顯微鏡-X射線能譜儀：
