互補金屬氧化物半導體（CMOS）檢測器能將火花直讀光譜儀（OES）分析提升至全新水平。CMOS技術是光電倍增管（PMT）（在一些金屬分析儀中用于高端分析）的替代方案。在一些場景中，可將CMOS技術選作OES應用場景的解決方案。
我們列出了您下次購買火花光譜儀時需要考慮基于CMOS的火花光譜儀的四大原因。
01、您缺少購買最昂貴的OES儀器所需的資金
直讀光譜儀是一項投資。此外，從歷史上看，更先進的儀器包含多個光電倍增管，覆蓋寬的波長范圍以檢測許多不同元素。由于PMT價格昂貴，因此包含PMT的這類儀器也很昂貴。CMOS檢測器替代儀器的成本要低得多，且能覆蓋的元素和波長范圍更寬。
02、您需要分析范圍寬的元素
PMT檢測器的工作性能非常出色，可測量含量超低的特定元素。但由于僅針對少數入射光波長優化每個檢測器，因此每個PMT檢測器將只能提供一個通道的結果。
如果需要測量各種材料中范圍更寬的雜質元素和痕量元素，則可投資購買配備很多個檢測器的儀器，但價格會很昂貴（見上述第1點）。基于CMOS的檢測器將測量更寬的光譜范圍，由此可檢測樣品中是否存在更多元素。
03、您預計會拓展金屬生產的新領域
如今，新合金開發活動與以往一樣活躍。從開發用于提高燃油經濟性的高強度、輕質材料，到植入后為人體所接受的醫療器械，不斷出現新的材料規格和客戶需求。
如果您選擇的OES儀器所配備的PMT檢測器已針對您目前所做工作予以優化（這對于您目前的應用場景來說可能很好），則在采用新應用場景的情況下，您可能會發現您目前所用的儀器實際上已過時。通過選擇基于CMOS的儀器，可讓您在未來有持續不斷的選擇機會。
04、您需要保持低成本才能保護利潤
鑄造廠、金屬生產廠和制造廠的營運成本很高。更糟糕的是，原材料和回收原料的價格可能因全球市場的不同而存在極大差別。因此，鑄造廠為保持盡可能低且可預測的所有其他成本而面臨較大壓力。
基于CMOS的OES儀器的操作成本往往低于其PMT同類儀器，因為CMOS技術僅需極少功率即可操作。我們的OE系列OES火花光譜儀進一步降低真空泵的功耗，并大幅減少分析期間所需的氬氣量。
所有這些方面都與檢出限有關
如今，如果進行的分析需要的檢出限低于使用CMOS檢測器時所提供的檢出限，則可能仍然需要基于PMT的檢測器。對于使用基于CMOS的檢測系統的日立OE系列，我們發布了應用指南，其中提供了不同基體合金的檢出限表。本文以鋼鐵為例。
您可以看到檢出限極低，但您必須為自己的應用場景選擇正確的檢測器技術，如果存在檢出限要求，則您仍可能必須依賴于PMT檢測器。
