Part 10：ISO 26262導則（作為Part1～9的補充，對特定項目的解說及事例的指南）；

Part 11：半導體應用指南。

AEC-Q

當我們談論汽車電子時，就不得不提AEC-Q100，作為公認的車規元器件通用測試標準，它被視為芯片前裝上車的“基本門檻”。無論是環境關還是壽命關，都可通過AEC-Q100這一標準進行驗證。對于汽車級芯片而言，AEC-Q100是基本可靠性的要求。AEC全稱為汽車電子協會（Automotive Electronics Council），由通用、福特和克萊斯勒共同建立，旨在制定一套通用的零件資質及質量系統標準。其中，Q代表Qualification。AEC-Q適用于汽車用芯片、無源器件、分立半導體器件等類型元器件認證，并為不同的元器件設定了相應的測試標準和測試項。

AEC-Q標準體系

車規級的電子元件對環境要求、抗振動沖擊、可靠性和一致性等方面要求嚴格，所以必須采用更先進的技術和更苛刻的測試程序。以AEC－Q100為例，規范了測試7大類別：

測試群組A（環境壓力加速測試）；

測試群組B（使用壽命模擬測試）；

測試群組C（封裝組裝整合測試）；

測試群組D（芯片晶圓可靠度測試）；

測試群組E（電氣特性確認測試）；

測試群組F（瑕疵篩選監控測試）；

測試群組G（封裝凹陷整合測試）。

只有完全通過7大類別共41項測試后，才能獲得AEC－Q100認證。AEC-Q系列認證，完成全部測試，平均最低時間也需要大概6個月左右，認證等級請參考下圖：

AEC-Q認證等級

AEC-Q的要求非常嚴格，只有通過相對應的標準規定的全部測試項目，供應商才能聲稱該產品通過了相應的AEC-Q認證；符合這些規格的組件適用于惡劣的汽車環境，無需額外的組件級鑒定測試。同時，AEC-Q標準是在不斷進化的，特別是隨著高級駕駛輔助系統（ADAS）和自動駕駛等新技術的發展，標準還將保持這種持續更新的狀態。

AEC-Q100驗證流程參考下圖，以Die Design>Wafer Fab.>PKG Assembly>Testing的制造流程來繪制，各群組的關聯性需要參考圖中的箭頭符號，這里將驗證流程分為五個部分進行簡易說明，各項測試的細節部分就不再細述。

AEC-Q100驗證流程

Design House：可靠度實驗前后的功能測試，此部分需IC設計公司與測試廠討論執行方式，與一般IC驗證主要差異在功能測試的溫度設定。

Wafer Foundry：D測試組為晶圓廠在Wafer Level的可靠度驗證，Fabless的IC業者必須與委托制造的晶圓廠取得相關資料。

Reliability Test：區域3為可靠性視產品包裝/特性需要執行的項目，AEC將其分為Group A(加速環境應力實驗)、Group B(加速工作壽命模擬)、Group C(封裝完整性測試)、Group E(電性驗證測試)、Group G(空腔/密封型封裝完整性測試)。

Design Verification：部分Group E的區域4為設計階段的失效模式與影響分析評估，成品階段的特性驗證以及故障涵蓋率計算。

Production Control：Group F的區域生產階段的品質控管，包含良率/Bin使用統計手法進行控管及制定標準處理流程。