近日，泰克科技公司日前宣布，為Keithley 4200A-SCS參數分析儀推出兩款最新源測量單元(SMU)模塊，即使在由于長電纜和復雜的測試設置而產生高負載電容時，其仍能執行低電流測量。許多主要測試應用都面臨著這一挑戰，如LCD顯示器制造和卡盤上的納米FET器件測試。
在被測器件本身電容很小的情況下，許多低電流測量應用中所需要的測試設置也會增加SMU輸出端的電容。當測試連接電容太大時，最終的低電流測量結果可能會變得不穩定。為解決這些挑戰，新模塊在提供電壓和測量電流時，支持的電纜長度和連接電容都要超過傳統SMU。
4200A-SCS參數分析儀
最新4201-SMU和4211-SMU是為采用長電纜、開關矩陣、通過柵極接觸卡盤及其他夾具的測試裝置專門設計的。這就讓研究人員和制造測試工程師節省了大量的時間和成本，而這些時間和成本本來可以花費在故障排除和重新配置測試設置上。
“因為要降低電流來節省能耗，精細測試裝置所產生的高負載電容正成為一個日益嚴重的問題。在測試智能手機或平板電腦采用的大型LCD面板時，就面臨著同樣的問題。”泰克科技公司吉時利系統和軟件總經理Peter Griffiths說，“我們的新模塊特別擅長進行穩定的低電流測量，并將立即使我們的許多現有和未來的客戶受益。”
在最低電流測量范圍內，4201-SMU和4211-SMU可以提供和測量的系統電容要比當前水平高出1,000倍。例如，如果電流在1 ~ 100 pA (皮安)之間，那么最新吉時利模塊可以在低達1 μF (微法拉)的負載電容下保持穩定。相比之下，同類產品最多只能容忍1,000 pF (皮法)的負載電容，之后測量穩定性就會劣化，這要比最新吉時利模塊差1,000倍。
