近日，西安光機(jī)所光電子學(xué)研究室成功研制寬光譜全天時光學(xué)成像測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)可同時在可見光與紅外波段對光電器件進(jìn)行測試，實現(xiàn)了在寬光譜全天時測試標(biāo)定領(lǐng)域的技術(shù)突破。

由西安工業(yè)大學(xué)、西安交通大學(xué)、北方夜視技術(shù)股份有限公司、中國科學(xué)院國家授時中心等單位的專家組成測試評審驗收組，通過對中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所光電子學(xué)研究室研制的寬光譜全天時光學(xué)成像測試系統(tǒng)進(jìn)行測試、答疑、評審，認(rèn)為該系統(tǒng)可同時在可見光與紅外波段對光電器件進(jìn)行測試，對該系統(tǒng)寬光譜、大動態(tài)范圍等測試標(biāo)定能力做出肯定，經(jīng)現(xiàn)場演示驗證后通過專家及用戶的測試評審驗收。

測試評審專家進(jìn)行現(xiàn)場測試

當(dāng)前，由于單一光學(xué)測試標(biāo)定設(shè)備只能夠?qū)崿F(xiàn)特定波段的測試標(biāo)定任務(wù)。而針對不同的測試要求與測試目標(biāo)，則需要多套標(biāo)定設(shè)備對光電器件反復(fù)測試標(biāo)定。

研發(fā)工作匯報、答辯、答疑

中科院西安光機(jī)所、西安工業(yè)大聯(lián)合研制的寬光譜全天時光學(xué)成像測試系統(tǒng)的光譜響應(yīng)范圍寬、光照度跨越范圍大，使得利用單套硬件系統(tǒng)同時實現(xiàn)多指標(biāo)、寬光譜、全天時測試標(biāo)定成為現(xiàn)實。

據(jù)研發(fā)團(tuán)隊相關(guān)專家介紹，該系統(tǒng)的光譜響應(yīng)范圍覆蓋可見光至遠(yuǎn)紅外波段（0.4 ~ 14微米），光照度跨越8個數(shù)量級（10-4 ~ 104勒克斯），像平面尺寸大于26 mm × 20 mm，可見光光學(xué)分辨率優(yōu)于5 μm；在攻克核心技術(shù)的同時，有效填補(bǔ)了大動態(tài)范圍內(nèi)同時實現(xiàn)可見、紅外成像系統(tǒng)標(biāo)定的技術(shù)空白，可廣泛適用于可見、紅外波段大動態(tài)范圍成像器件的測試標(biāo)定。