我們來看下這個數據，所有像素平均值的預期精度可能達到0.5?C。有些人可能甚至會聲稱FLIR A325sc等使用相同探測器的其他熱像儀的精度為±1?C。不過，也有些人可能會辯稱，上面圖形顯示的是所有像素的平均值，可能并不能代表個別的像素。

了解所有像素彼此有多一致的一種方法是觀察標準差和時間。

觀測37 ?C黑體時典型FLIR A325sc紅外熱像儀的標準差（A325 SN 0463，1fps速率，37℃的黑體，1英尺距離，320240圖像的標準偏差）

上圖顯示出其典型的標準差小于0.1?C。突破到0.2?C左右的偶然情況也是因為熱像儀進行了單點校準。單點校準是自校準流程中的一種類型，是所有采用微測輻射熱計的紅外熱像儀都必須定期執行的流程。

到目前為止，我們討論的都是非制冷型微測輻射熱計紅外熱像儀采集的數據，那么高性能量子探測器紅外熱像儀的結果會有何不同？

觀測35 ?C黑體時典型銻化銦紅外熱像儀的響應值

上圖顯示的是典型3‐5μm帶銻化銦(InSb)探測器的紅外熱像儀，比如FLIRX6900sc。該熱像儀的參數文檔中標明，該測試精度為±2?C或2%。你會發現數據在這些參數范圍內：當天的精度讀數約0.3?C，精確性讀數約0.1?C。但為什么偏移誤差是在0.3?C？這可能是因為黑體的校準、熱像儀的校準或第2節中提到的局部誤差術語造成的。另一種可能是熱像儀只在測量開始的時候進行了簡單的暖機。如果光學鏡頭或機身的內部沒有產生溫度變化，那么可能會抵消溫度測量值。

我們從這兩個校準測試中可以得出這樣的結論，微測輻射熱計紅外熱像儀和光子計數量子探測器紅外熱像儀可能經過出廠校準，在典型的室內環境條件下，觀測已知發射率的37?C物體時的精度小于1?C。

3、環境溫度補償

出廠校準的一個最關鍵步驟是環境溫度補償。無論是熱探測器紅外熱像儀還是量子探測器紅外熱像儀，都會對落在探測器上的總紅外能量做出響應。如果熱像儀的設計精良，大部分能量都來自于物體：極少是來自熱像儀本身。但是，不可能完全消除探測器和光程周圍材料的影響。沒有適當的補償，機身或鏡頭的任何溫度變化都可能明顯改變熱像儀提供的溫度讀數。

Teledyne FLIR Systems的校準室

實現環境溫度補償最好的方法是從最多3個不同位置測量熱像儀和光程的溫度，然后將測量數據并入校準公式中。這樣可以確保整個工作溫度范圍的準確讀數(一般為-15?C至50?C)。這對將要用于室外的熱像儀來說尤為重要，否則的話便會受到溫度波動的影響。和環境溫度補償一樣重要的是，在進行關鍵測溫前要對熱像儀進行完全的預熱。同時，也要確保熱像儀和鏡頭沒有直接曝露于光照或其他熱源下，改變熱像儀和光學鏡頭的溫度會對測量的不確定性產生不利影響。

我們應該注意到，并非所有的熱像儀制造商在他們的校準過程中都會進行環境溫度補償。如果對環境溫度偏移補償做的不好，這些熱像儀的數據可能出現明顯的錯誤。甚至偏差可能在10?C以上。因此，在購買紅外熱像儀前，一定要詢問其有無進行過校準，以及如何執行的校準。

4、其他測量時要考慮的因素

無論與熱像儀的校準有無直接的相關性，某些考量因素，如發射率和距離系數比都可能影響熱像儀的精度，發射率設置錯誤或測試條件不合適會影響熱像儀能否正確測量物體。

發射率