1、微波暗室(Anechonic chamber)

波暗室又叫無反射室、吸波暗室簡稱暗室。微波暗室由電磁屏蔽室、濾波與隔離、接地裝置、通風(fēng)波導(dǎo)、室內(nèi)配電系統(tǒng)、監(jiān)控系統(tǒng)、吸波材料等部分組成。它是以吸波材料作為襯面的屏蔽房間，它可以吸收射到六個壁上的大部分電磁能量較好的模擬空間自由條件。暗室是天線設(shè)計公司都需要建造的測試設(shè)備，因為對于手機天線的測試比較精確而且比較系統(tǒng)，其測試指標(biāo)可以用來衡量一個手機天線的性能的好與壞。主要是天線公司使用，但其造價昂貴。

2、TEM CELL測試

用TEM CELL測試天線有源指標(biāo)，因為微波暗室和天線測試系統(tǒng)造價比較昂貴，一般要百萬以上，一般的手機設(shè)計和研發(fā)公司沒有這種設(shè)備，而用TEM CELL(也較三角錐)來代替測試。和微波暗室的測試目的一樣，TEM CELL也是一個模擬理想空間的天線測試環(huán)境，金屬箱能夠提供足夠的屏蔽功能來消除外部干擾對天線的影響，而內(nèi)部的吸波材料也能吸收入射波，減小反射波。TEM CELL不能對天線進行無源測試，只能對有源指標(biāo)進行測試。由于空間限制，TEM CELL的吸波材料比較薄，而對于劈狀吸波材料，是通過劈尖間的多次反射增加對入射波進行吸收，因此微波暗室里的吸波材料都比較厚，而TEM CELL的吸波材料都不購厚，因此對入射波的吸收都不是很充分，因此會導(dǎo)致測試的結(jié)果不精確。

另外，TEM CELL的高度也不夠，這也是TEM CELL不能進行定量測試的一個原因。根據(jù)天線輻射的遠場測試分析，對于EGSM/DCS頻段的手機天線，被測手機與天線的距離至少大于1米；因此，我們可以看幾乎所有的2D暗室都是遠大于這個距離。而TEM CELL比這個距離小一些，所以這也是TEM CELL相對于微波暗室來講測量不準(zhǔn)的一個原因。

所以，TEM CELL只能對天線做定性的分析而不能做定量的分析。在實驗室可以定性分析幾種樣機的差異，比較其性能的優(yōu)劣，但不能作為準(zhǔn)確的標(biāo)準(zhǔn)值來衡量天線的性能，只能通過與其他的“金雞'(Golden sample ) 對比，大致來判斷手機天線的性能。TEM CELL一般只找最佳方值，使測試結(jié)果對手機擺放的位置比較敏感。

另外，還有一種測試工具較屏蔽箱，有的設(shè)計公司用來對手機天線進行有源測試，這種方法很不可行。一方面由于測試距離太近，另一方面由于沒有足夠的吸波材料，外部干擾對天線的測試影響比較大，這樣導(dǎo)致測試結(jié)果對位置比較敏感，稍微改變一下位置測試結(jié)果就有比較大的改變，因此這種測試方法對手機天線的性能沒有多少的參考意義。

3、用耦合測試板測試天線性能

在生產(chǎn)過程中為了保證產(chǎn)品的生產(chǎn)品質(zhì)，往往要進行天線的耦合測試。要用到的測試裝置是：耦合測試夾具與綜合測試儀相連，手機固定在夾具上。在生產(chǎn)前期根據(jù)幾只樣機的測試結(jié)果，給出一個合理的耦合補償值，確定一個功率標(biāo)準(zhǔn)，然后對手機的最大功率進行測試，高于這個功率標(biāo)準(zhǔn)表示產(chǎn)品符合生產(chǎn)要求，低于這個要求說明天線與相關(guān)器件有問題。通過天線耦合測試可以發(fā)現(xiàn)以下問題：

(1)天線匹配電路虛焊和缺件等。

(2)天線周圍電子/結(jié)構(gòu)件有問題。

(3)天線沒有裝配好。

(4)天線本身品質(zhì)有問題。