圖1 Ceyear 6433P 光波元件分析儀（10MHz~110GHz）
隨著5G/6G光通信帶來的流量和速率的提升及物聯網、云計算帶動數據中心的大規模建設，400G光模塊已成為下一代光通信網絡和新一代數據中心的主流方案，其核心的光芯片帶寬從50/67GHz逐步向110GHz演變。為解決大帶寬光芯片的頻響測試難題，思儀科技突破多項核心技術，重磅推出Ceyear 6433P光波元件分析儀(Lightwave Component Analyzer, LCA)，產品調制頻率范圍覆蓋10MHz~110GHz，頻率響應重復性±1.2dB，可實現光芯片的帶寬、平坦度、電反射等頻響參數的測量。
光芯片研發和生產中，對帶寬、電反射等指標的測試，可準確評估芯片的性能。6433P依據被測芯片的類型，搭配相應的光電/電光轉換模塊，采用超寬頻帶1.0mm同軸連接，構建“微波-電/光-光/電-微波”的測試鏈路，形成針對電光及光電芯片的頻響測試解決方案，如圖2為電光芯片（電光調制器芯片）頻響測試解決方案。
圖2 電光調制器芯片頻響測試解決方案
6433P集成電電(E/E)、電光(E/O)、光電(O/E)和光光(O/O)四種測試功能模式，功能模式之間支持一鍵切換，方便用戶結合測試場景，實現電光芯片（EAM、EAL等）、光電芯片（PIN、APD等）、光光芯片（EDFA、SOA等）及電電芯片（放大器芯片、混頻器芯片等）頻響參數的精確測量，如圖3所示，以光電探測器芯片為例，6433P通過搭配探針臺、高頻探針，利用儀器自帶的校準端面管理功能，提取高頻探針的s2p文件，將該文件利用射頻去嵌入功能，消除探針對測試鏈路的影響，完成被測件的測量。
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圖3 探測器芯片測試框圖
通過電光器件S11、S21參數及光電器件S22、S21參數的測試，利用多窗口對比、3dB帶寬分析等，用戶能獲取測試對象各頻點的反射參數、傳輸參數等頻響特性，滿足科研、產品線等測試需求。
圖4 探測器芯片的S21曲線
圖5 探測器芯片的S22曲線
6433P的調制頻率可下探至500Hz，滿足用戶低頻段測試需求；最小1Hz的頻率分辨率和最高200001點的測量點數，能夠帶來更豐富的頻點信息和更精細的測量結果；配置四端口機型可實現平衡光發射或光接收芯片對差分增益參數的測試需求；配備的LAN、GPIB遠程控制接口及SCPI指令集，為系統集成及自動化測試提供有力的保障。
6433P光波元件分析儀具有寬頻帶同軸覆蓋、測試功能豐富、一鍵式快速掃頻等優點，具備出色的微波及光電特性。靈活的硬件配置和豐富的軟件功能相輔相成，助力用戶解決光芯片頻響測試難題。
