4042系列頻譜分析儀是思儀科技2023年推出的開陽星系列經(jīng)濟(jì)型測(cè)試產(chǎn)品，旨在提供高性價(jià)比的測(cè)試解決方案。思儀科技堅(jiān)持“以顧客為中心，超越顧客期望“的理念，通過持續(xù)提升產(chǎn)品功能，為助推用戶開啟創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)、提升測(cè)試的戰(zhàn)斗力。此次全新增加矢量信號(hào)分析、相位噪聲測(cè)試、EMI分析等多種測(cè)量功能，可滿足多種場(chǎng)景測(cè)試需求，是追求高性價(jià)比頻譜儀客戶的不二之選。

圖1 4042系列頻譜分析儀

1.全新增加矢量信號(hào)分析功能選件

傳統(tǒng)的掃頻分析只能進(jìn)行功率和頻率測(cè)量，無法測(cè)量數(shù)字信號(hào)的信號(hào)質(zhì)量。數(shù)字調(diào)制信號(hào)的低成本高效測(cè)量是目前眾多用戶的痛點(diǎn)。4042系列頻譜分析儀可提供最大帶寬40MHz的矢量信號(hào)分析功能，可對(duì)PSK、FSK、MSK、QAM等多種通用單載波數(shù)字調(diào)制信號(hào)進(jìn)行時(shí)域、頻域和調(diào)制域的聯(lián)合信號(hào)分析，并可提供EVM、矢量圖、星座圖、頻譜圖等豐富的測(cè)試結(jié)果。4042系列頻譜分析儀內(nèi)置參考信號(hào)生成功能，可對(duì)測(cè)量信號(hào)的調(diào)制質(zhì)量和調(diào)制誤差進(jìn)行分析，并輔助診斷增益不平衡、正交誤差等信號(hào)問題，可幫助用戶解決數(shù)字信號(hào)發(fā)射機(jī)的信號(hào)質(zhì)量測(cè)試問題。

圖2 矢量信號(hào)分析界面

2.全新增加相位噪聲測(cè)試功能選件

相位噪聲測(cè)量主要用于確定本振、混頻器和放大器等射頻組件的短期頻率穩(wěn)定性。如何快速準(zhǔn)確的測(cè)量相位噪聲，加快用戶調(diào)試速度是開發(fā)此功能的初衷。4042相位噪聲測(cè)試功能提供單邊帶相位噪聲曲線和單點(diǎn)相位噪聲測(cè)試的一鍵式測(cè)量方法，可快速地完成發(fā)射機(jī)的相位噪聲指標(biāo)測(cè)試，幫助用戶提高測(cè)試效率。

圖3 相位噪聲測(cè)試界面

3.全新增加EMI分析功能選件

在電子產(chǎn)品的新產(chǎn)品研制過程中往往需要通過電磁兼容性認(rèn)證，而EMC的認(rèn)證費(fèi)用高且認(rèn)證周期長，用戶往往難以承受，因此降低研發(fā)成本、提高認(rèn)證測(cè)試一次性通過率是用戶的迫切需求。4042系列頻譜分析儀的 EMI分析功能選件可以協(xié)助用戶進(jìn)行電磁兼容預(yù)測(cè)試，及早發(fā)現(xiàn)EMI問題并采取對(duì)策，該選件具有準(zhǔn)峰值、CISPR平均值、CISPR有效值等檢波方式，搭配近場(chǎng)探頭可完成印制板、部件、整機(jī)的電磁兼容預(yù)測(cè)試，提高認(rèn)證測(cè)試的通過率，為客戶大幅節(jié)省測(cè)試時(shí)間和成本。

圖4 EMI分析測(cè)試

4.全新增加上架套件選件

根據(jù)需求搭建專用測(cè)試系統(tǒng)便于測(cè)試儀器的集成，是部分用戶提高研發(fā)與生產(chǎn)調(diào)試的便捷性與高效性的迫切需求。4042系列頻譜分析儀新增6U標(biāo)準(zhǔn)上架套件選件，可實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)機(jī)箱的完美嵌套，同時(shí)可提供程控函數(shù)庫供用戶進(jìn)行快速二次開發(fā)，方便用戶系統(tǒng)集成，滿足實(shí)驗(yàn)室或者工業(yè)環(huán)境中的系統(tǒng)集成測(cè)試需求。

圖5 上架套件圖片

4042系列頻譜分析儀在性能方面具有優(yōu)異的相位噪聲、靈敏度及掃描速度，功能方面具備實(shí)時(shí)頻譜、矢量信號(hào)分析等多種測(cè)量功能模式，具有較高的性價(jià)比，無論是在產(chǎn)線、實(shí)驗(yàn)室、現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試中都能輕松駕馭，可為用戶的頻譜測(cè)試提供比較完善的低成本高效率解決方案。