使用PXI信號分析儀測量IMD和TOI
互調失真（IMD）和三階截點（TOI）是NI-RFSA軟件前面板（SFP）的內置測量功能。進行這些測量時，可以將信號分析儀的頻率設置為以兩個基音為中心頻率，以確保可以看見高于本地噪聲的三階失真產物。在NI-RFSA SFP上選擇檢測音，生成測量結果。NI-RFSA SFP會自動識別基音的功率差以及三階失真產物的功率差，并顯示正確的測量結果。有關PXI RF信號分析儀的更多信息，請訪問ni.com/rf/test。
基音信號功率每增加1 dB，三階失真產物功率增加3 dB
實際上，IP3/TOI是計算所得而非測量所得的結果。一階產物和三階產物之間的功率增加比是3:1，利用以下公式可以計算出IP3。
TOI是衡量射頻前端性能的重要指標，因為IMD比率取決于功率電平。TOI的測量將IMD性能的要素與功率電平相結合，并通過一個數字來表示性能。
IMD測量配置
根據IMD測量理論，執行該測量需要雙音激勵信號。在大多數應用中，配置雙音激勵信號的 方法是將RF信號發生器連接至RF功率組合器，如圖13 所示。
IMD測量需要連接至功率組合器的兩個信號產生器
由于IMD是一種常見的測量方式，許多RF信號分析儀具有內置測量功能來測量IMD或IMD/TOI。事實上，NI-RFSA SFP可以自動檢測基音和三階失真產物，并計算出IMD比。
