中電科思儀科技股份有限公司的6433系列光波元件分析儀不僅能實(shí)現(xiàn)對(duì)光器件（電光器件、光電器件、光光器件）的S參數(shù)測(cè)試，也可實(shí)現(xiàn)對(duì)5G光芯片（PD芯片、LD芯片）的S參數(shù)測(cè)試。

（一）光芯片測(cè)試面臨的問題

傳統(tǒng)的測(cè)試方法通過校準(zhǔn)片對(duì)探針進(jìn)行校準(zhǔn)，該方法雖然校準(zhǔn)精度高，但是需要使用開路、短路、負(fù)載多個(gè)校準(zhǔn)片，且需要用戶自己創(chuàng)建校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)，校準(zhǔn)過程復(fù)雜，不利于用戶對(duì)儀器的使用。

（二）測(cè)試問題解決的思路

6433x系列光波元件分析儀以公司3672x系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀為平臺(tái)，通過基于自動(dòng)夾具移除軟件選件可實(shí)現(xiàn)光芯片（直接調(diào)制激光器、電吸收調(diào)制器、光電探測(cè)器）快速地測(cè)試，有效地解決光芯片S參數(shù)測(cè)試前鏈路校準(zhǔn)的難題。測(cè)試時(shí)，將高頻探針等效為夾具，通過自動(dòng)夾具移除測(cè)量高頻探針的時(shí)域參數(shù)，利用信號(hào)流圖提取頻域參數(shù)，形成s2p文件，進(jìn)而通過射頻去嵌入，實(shí)現(xiàn)光芯片的高精度S參數(shù)測(cè)試。

（三）解決問題的具體方法

以PD芯片為例，基于自動(dòng)夾具移除的光芯片測(cè)試的測(cè)試連接如示意圖所示，輸出的光信號(hào)通過光纖跳線連接到被測(cè)芯片的輸入端，被測(cè)芯片輸出的電信號(hào)通過射頻電纜連接到儀器的射頻端口2。在測(cè)試時(shí)，首先通過自動(dòng)夾具移除功能得到高頻探針的s2p文件，其次通過射頻去嵌入消除探針帶來的測(cè)量誤差，以獲得被測(cè)芯片的真實(shí)S參數(shù)。

（四）測(cè)試的案例效果

利用自動(dòng)夾具移除功能，光波元件分析儀能夠準(zhǔn)確測(cè)量得到高頻探針的參數(shù)信息，在進(jìn)行電光芯片或光電芯片測(cè)試時(shí)，消除探針帶來的測(cè)量誤差，進(jìn)而高精度地表征芯片的S參數(shù)，如下圖所示（基于6433光波元件分析儀實(shí)現(xiàn)）成功完成了光芯片在片測(cè)試。

基于自動(dòng)夾具移除的光芯片在片測(cè)試方案