國內精密測量儀器領軍企業優可測今日正式發布旗艦產品 AM8000 白光干涉儀。該設備采用專利光學系統和智能算法，實現小于 1 納米的表面形貌測量精度，標志著中國在高端光學測量領域取得重大突破。

AM8000 創新性支持 1X-10X 多倍率鏡頭切換，配備 300mm 大行程電控平臺，可完成從 18×11mm 大視野到微孔深樣品的全場景測量。其獨創的 "EquiDrive 自動調平" 技術將傳統 30 分鐘的手動操作縮短至 5 秒，配合循環測量和批量報告導出功能，顯著提升半導體晶圓、精密光學元件等復雜工件的檢測效率。第三方檢測顯示，設備隔振穩定性較前代提升 270%，RMS 重復性達 0.0041nm。

"我們通過氣浮緩沖和低重心設計，使設備對環境振動敏感度降低 80%。" 優可測技術總監透露。目前該產品已獲得 TS16949 汽車行業認證，成功應用于寧德時代電池箔檢測、華為芯片封裝形貌分析等項目，單臺設備年檢測量可達 50 萬件以上。